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KIES 视觉缺陷检测算法授权

货号
K9021
产品标识
KIES-VI
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产品线
AI 算法授权

商品详情

KIES 自研的表面缺陷检测算法包:小样本训练起步(数十张缺陷图即可冷启动),支持划痕、脏污、缺件、错装等常见缺陷类型,部署在 Jetson / RK3588 / 工控机 + 加速卡等本站在售的算力平台上,与相机光源整线交付。

按产线 / 相机路数授权,含一年算法升级;提供样品免费测试评估。

  • 小样本冷启动:数十张缺陷图即可训练
  • 覆盖划痕 / 脏污 / 缺件 / 错装等常见缺陷
  • 适配 Jetson / RK3588 / 工控机 + 加速卡
  • 与相机、光源、算力整线交付
  • 按产线 / 相机路数授权,含一年升级

应用场景

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